產(chǎn)品列表 / products
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型號(hào):HT-DT-600B
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更新時(shí)間:2025-12-13
價(jià)格:33620
在線留言| 品牌 | 廣皓天 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 額定頻率范圍 | 1~600Hz | 臺(tái)面尺寸 | (W)500×(D)500(可定制) |
| 儀器類型 | 電動(dòng)振動(dòng)臺(tái) | 最大加速度 | 20g |
| 最大試驗(yàn)負(fù)載 | 100kg | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),建材,電子 | 最大試驗(yàn)負(fù)載 | 100kg |
| 最大加速度 | 20g | 額定頻率范圍 | 1-600Hz |
| 倍數(shù)功能(0.01HZ) | 15段每段65500秒/可循環(huán) | 材質(zhì) | 不銹鋼板 |
生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。
電磁振動(dòng)試驗(yàn)機(jī) 控制電子芯片耐振測(cè)試
一、 產(chǎn)品性能
專為控制電子芯片耐振測(cè)試設(shè)計(jì)的電磁振動(dòng)試驗(yàn)機(jī),性能核心在于高精度、高響應(yīng)與高頻能力。其具備精確復(fù)現(xiàn)高頻微幅振動(dòng)的能力,以匹配芯片級(jí)結(jié)構(gòu)的敏感頻率;擁有信噪比和低失真度,確保測(cè)試信號(hào)純凈;并能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)的加速度與位移控制,防止對(duì)精密芯片造成過應(yīng)力損傷。
電磁振動(dòng)試驗(yàn)機(jī) 控制電子芯片耐振測(cè)試
二、 工作原理
其工作原理基于經(jīng)典的電磁驅(qū)動(dòng)閉環(huán)伺服控制。控制儀生成精密驅(qū)動(dòng)信號(hào),經(jīng)放大器后驅(qū)動(dòng)振動(dòng)臺(tái)動(dòng)圈運(yùn)動(dòng)。安裝在專用芯片測(cè)試夾具或PCB板上的高靈敏度加速度計(jì)實(shí)時(shí)采集振動(dòng)響應(yīng)并反饋??刂葡到y(tǒng)高速比對(duì)預(yù)設(shè)頻譜(如模擬芯片在發(fā)動(dòng)機(jī)艙的高頻振動(dòng))與實(shí)際反饋,動(dòng)態(tài)調(diào)整驅(qū)動(dòng)信號(hào),形成精準(zhǔn)閉環(huán),確保芯片承受的振動(dòng)環(huán)境與設(shè)定條件嚴(yán)格一致。
三、 重要性
對(duì)控制電子芯片進(jìn)行耐振測(cè)試至關(guān)重要。芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)(如引線鍵合、焊球、硅晶元)及其在PCB上的焊接點(diǎn)在振動(dòng)下易發(fā)生疲勞斷裂、接觸失效或性能漂移。此類失效直接導(dǎo)致整機(jī)功能喪失。通過振動(dòng)測(cè)試,可在研發(fā)階段暴露芯片封裝、焊接及電路設(shè)計(jì)的薄弱點(diǎn),驗(yàn)證其能否耐受車載、機(jī)載等惡劣振動(dòng)環(huán)境,是保證電子系統(tǒng)功能安全與長(zhǎng)期可靠性的核心驗(yàn)證環(huán)節(jié)。
四、 滿足標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)試嚴(yán)格遵循電子與半導(dǎo)體行業(yè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn):
半導(dǎo)體標(biāo)準(zhǔn):JEDEC JESD22-B103(振動(dòng)疲勞)、JESD22-B110(機(jī)械沖擊與振動(dòng))。
汽車電子標(biāo)準(zhǔn):AEC-Q100(芯片應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證)、ISO 16750-3中關(guān)于電子控制單元的振動(dòng)要求。
通用標(biāo)準(zhǔn):IEC 60068-2-6(正弦)、IEC 60068-2-64(隨機(jī))。
客戶特定標(biāo)準(zhǔn):各大汽車制造商、航空航天企業(yè)的內(nèi)部芯片級(jí)測(cè)試規(guī)范。
五、 技術(shù)參數(shù)
額定推力:通常為2kN-10kN,滿足芯片測(cè)試所需的小推力高頻率特點(diǎn)。
頻率范圍:寬頻,如5Hz ~ 3000Hz或更高,以覆蓋芯片及微型結(jié)構(gòu)的共振點(diǎn)。
加速度:空載可達(dá)1000 m/s2以上,模擬嚴(yán)苛環(huán)境。
位移:通常較?。ㄈ?plusmn;25mm P-P),側(cè)重高頻測(cè)試。
臺(tái)面尺寸與安裝:配備標(biāo)準(zhǔn)M4/M5螺紋陣列臺(tái)面或適配器,便于安裝精密芯片測(cè)試夾具。
控制精度:要求控制精度(如±1dB)和低本底噪聲。
六、 產(chǎn)品結(jié)構(gòu)
結(jié)構(gòu)針對(duì)精密測(cè)試優(yōu)化:
緊湊型臺(tái)體:采用低漏磁設(shè)計(jì),防止干擾芯片信號(hào)。
高頻動(dòng)圈:輕量化、高剛度設(shè)計(jì),確保高頻響應(yīng)性能。
精密功放與風(fēng)冷:提供穩(wěn)定純凈的動(dòng)力輸出。
數(shù)字控制器:集成芯片測(cè)試常用標(biāo)準(zhǔn)譜庫與高分辨率分析功能。
專用夾具接口:便于連接芯片承載板(PCB)或氣動(dòng)式芯片專用夾具。
七、 產(chǎn)品特點(diǎn)
高頻高精度控制:專為芯片級(jí)微小信號(hào)響應(yīng)設(shè)計(jì)。
低本底噪聲:確保測(cè)試信號(hào)不受設(shè)備自身干擾。
多功能控制模式:支持掃頻、駐留、隨機(jī)及典型沖擊譜測(cè)試。
安全保護(hù)完善:具備加速度、位移雙重限幅保護(hù),防止意外損壞昂貴芯片樣品。
數(shù)據(jù)采集同步:便于同步監(jiān)測(cè)芯片在振動(dòng)下的電性能參數(shù)變化。






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