快溫變高低溫實驗箱的檢測數(shù)據(jù)是產(chǎn)品研發(fā)、量產(chǎn)質(zhì)檢的核心依據(jù)，溫場均勻度失衡會使樣品不同部位處于差異化溫度環(huán)境，造成檢測結(jié)果偏離真實性能。例如，在電子元器件檢測中，若箱內(nèi)局部溫度比設(shè)定值高 5℃，處于該區(qū)域的芯片可能提前觸發(fā)高溫保護，誤判為 “高溫耐受性不達標(biāo)"；而處于低溫區(qū)域的同批次芯片，又可能因低溫應(yīng)力不足，掩蓋其低溫下的性能缺陷。這種 “同樣不同測" 的情況，會讓企業(yè)誤將合格產(chǎn)品判定為不合格，或讓存在隱患的產(chǎn)品流入市場，嚴(yán)重影響質(zhì)量管控效率。

快溫變高低溫實驗箱的快速溫變循環(huán)本就對樣品材料性能有嚴(yán)苛考驗，溫場均勻度超范圍會進一步加劇樣品局部的應(yīng)力損傷。以汽車動力電池為例，若箱內(nèi)溫度分布不均，電池模組某區(qū)域長期處于高于設(shè)定值的環(huán)境中，該區(qū)域的電芯會出現(xiàn)電解液分解速度加快、電極材料老化加速的問題，而其他區(qū)域電芯性能正常。這種局部老化差異會導(dǎo)致整個電池模組充放電循環(huán)壽命大幅縮短，實際裝車后可能出現(xiàn)續(xù)航衰減快、局部過熱等故障，與快溫變實驗箱 “模擬真實使用環(huán)境、驗證產(chǎn)品壽命" 的初衷相悖。

對于航空航天、醫(yī)療設(shè)備等對環(huán)境適應(yīng)性要求領(lǐng)域，快溫變高低溫實驗箱溫場均勻度超范圍可能直接導(dǎo)致樣品功能失效，甚至引發(fā)安全事故。例如，航空電子設(shè)備中的線路板在快溫變實驗中，若局部溫度過低，會使線路板上的焊點出現(xiàn)冷裂紋，而其他區(qū)域溫度正常 —— 實驗中未發(fā)現(xiàn)的隱患，在高空低溫環(huán)境下可能突然爆發(fā)，導(dǎo)致設(shè)備信號中斷；又如醫(yī)療監(jiān)護儀的傳感器，若在實驗中因局部高溫提前老化，會導(dǎo)致其在實際使用中出現(xiàn)數(shù)據(jù)漂移，影響患者生命體征監(jiān)測的準(zhǔn)確性。這些問題的根源，均是快溫變高低溫實驗箱溫場均勻度失控，未能真實模擬統(tǒng)一的環(huán)境。